SEM 样品

A、样品不具有磁性和挥发性等

B、样品尺寸≤Ø50×30 mm

TEM 样品

样品要求

A、粉末样品基本要求

（1）、单颗粉末尺寸最好小于1μm；

（2）、无磁性；

（3）、以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪；

B、块状样品基本要求

（1）、需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；

（2）、如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；

（3）、无磁性；

（4）、块状样品制备复杂、耗时长、工序多、需要由经验的老师指导或制备；样品的制备好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。所以块状样品制备之前，最好与TEM的老师进行沟通和请教。

C、送样品前的准备工作

a）、目的要明确：（1）做什么内容（如确定纳米棒的生长方向，特定观察分析某个晶面的缺陷，相结构分析，主相与第二相的取向关系，界面晶格匹配等等）；（2）希望能解决什么问题；

b）、样品通过X-Ray粉末衍射（XRD）测试、并确定结构后，再决定是否做HRTEM；这样即可节省时间，又能在XRD的基础上获得更多的微观结构信息。

c）、做HRTEM前，请带上XRD数据及其他实验结果，与HRTEM老师进行必要的沟通，以判断能否达到目的；同时HRTEM老师还会根据您的其他实验数据，向您提供好的建议，这样不但能满足您的要求，甚至使测试内容做得更深，提高论文的档次。